恒加速度试验也可用来测定恒加速度对电子器件的影响,其目的是显示在冲击和振动试验时不一定能检测出的结构和机械的缺陷,也可用作高应力试验来测定封装、内部金属化和引线系统、芯片或封底附着能力及电子器件其他部件的结构强度极限值。如果确定了适当的应力强度,该试验也可用作生产线上的100%筛选试验,以便检测和剔除任何结构部件的机械强度低于标称值的器件。
离心式恒加速度试验机是为国防企业做模拟离心运动的一种手段,以考核设备、元器件的抗荷性能及检测抗荷性能指标的试验设备。主要用于对飞行器上的元器件、小部件和小型整机做例行动态结构完好性及适应性试验。并且可在元器件的制造过程中做百分之百筛选试验,检测和剔除任何结构部件低于标称值的器件, 用于确定电子元器件、小型设备和其他电工电子产品经受稳态加速度(恒加速度)环境所产生的力(重力除外)作用下,如运行的车辆、空中运载工具、旋转机械和抛射体所产生的作用下,结构的适应性和性能是否良好,以及评定一些元器件的结构完好性,并且可在恒加速度环境下考核试品的电参数。