X荧光光谱仪属于的分析检测仪器，随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展，传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式，转化成光、机、电、算（计算机）一体化、自动化的结构，并向智能化、小型化、在线式及仪器联用方向发展。天瑞公司在以已掌握的成熟的台式X荧光光谱仪技术为基础，结合国外相关的技术发展成果，研制出具有自主知识产权的EDX 1800B型X荧光光谱仪。
EDX1800B/1800性能X势：
1.X低能量分辨率，轻元素检测效果更佳使用大面积铍窗电致冷SDD探测器，探测器分辨率低达到139eV，各项指标X于标准。SDD探测器具有良好的能量线性、良好的能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；对Si、S、AI等轻元素的测试具有良好的分析精度。
2. 测试精度更高，检出限更低①化的样品腔设计，带可调速的自旋样品腔，能X的测定轻元素和减少样品均一性的影响，提高样品的测试精度。②采用X小X真空的样品腔设计，保证测试时达到10Pa以下，使设备的测试范围可从F元素起测试，大大地提高测试范围、轻元素检出限和精度。
3. 分析速度更快，从X1秒即可得到定性定量结果采用自主研发的数字多道技术，其线性计数率可达100kcps，可以更加快速的分析，从X1秒就可以得出定性定量结果，设计成高计数率，大大提高了设备的稳定性。
4. 一键式智能化操作软件，的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作，使操作简易，对操作人员限制小的特点。
5. 强大的自动化功能①自动化程度高，具有自动开盖、自动切换准直器与滤光片等功能。②采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性：利用解谱技术使谱峰分解，采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。
6. 强度校正法具有多种测试模式设置和无限数目模式的自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
7. 完善的光路系统自主研发的光路系统，光程更短，光路损失更少，激发效果更佳。
8. 三重安全防护功能三重安全防护功能，自动感应，没有样品时仪器不工作，无射线泄漏；加厚防护测试壁；配送测试防护安全罩。
9. 安全警示系统警告指示系统，通电时绿色指示灯亮，测试时黄色辐射指示灯闪烁，防止误操作
