1.6.2.元素含量分析范围为1 PPm到99.99%;
1.6.3.测量时间:100-300秒;
1.6.4.RoHS指令规定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br)其检测限度X高达2PPM;
1.6.5.能量分辨率为149±5电子伏特;
1.6.6.温度适应范围为15℃至30℃;
1.6.7电源:交流220V±5V;(建议配置交流净化稳压电源。)
X荧光光谱仪EDX6600专门针对RoHS(含卤素元素)检测而开发(含真空控制功能),对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。
3.1.1元素分析范围:从硫(S)到铀(U);
3.1.2一次可同时分析24个元素;
3.1.3分析检出限可达2PPM;
3.1.4含量分析范围一般为1ppm—99.9%;
3.1.5软件自带多种图像处理和分析计算方法;
3.1.6多次测量重复性可达0.1%;
3.1.7长期工作稳定性为0.1%;
3.1.8能量分辨率为149±5eV;
3.1.9软件自带多种图像处理和计算方法;
3.1.10应用X域:ROHS、无卤检测
3.2X荧光光谱仪金属合金元素分析软件CA2008
3.2.1元素分析范围:从硫(S)到铀(U);
3.2.2一次可同时分析24个元素;
3.2.3分析检出限可达100PPM;
3.2.4含量分析范围一般为100ppm—99.9%;
3.2.5软件自带多种图像处理和分析计算方法;
3.2.6多次测量重复性可达0.1%;
3.2.7长期工作稳定性为0.1%;
3.2.8能量分辨率为149±5eV;
3.2.9软件自带多种图像处理和计算方法;
3.2.10应用X域:合金(如黄铜、不锈钢等合金)所含元素含量分析
(如Cu、Zn、Pb、Sn、Fe、Ni、Mn、Sb、Cr、Mo、Co、Ti、V等元素);
3.3X荧光光谱仪镀层厚度测试软件NSMeasure
3.3.1元素分析范围:从钠(Na)到铀(U);
3.3.2一次可同时分析3层以上镀层;
3.3.3分析检出限可达0.01μm;
3.3.4分析厚度一般为0.1μm到30μm之间;
3.3.5多次测量重复性可达0.1μm(对于小于1μm的X外层镀层);
3.3.6长期工作稳定性为0.1μm(对于小于1μm的X外层镀层);
3.3.7配置小孔准直器,测试光斑在0.2mm以内;
3.3.8探测器能量分辨率为149±5eV:
3.3.9X荧光光谱仪应用X域:金属电镀层厚度的测量,如Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu等;