北京华欧世纪光电技术有限公司
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Xstress3000X射线应力分析仪根据的是布拉格定律，使用X射线来测量残余应力和残余奥氏体。适用于多晶体材料(包括陶瓷)。
Xstress3000X射线应力分析仪此设计主要是针对应力测量用的，非常方便，对操作者来说也很安全。用户可在测量中的任何状态下访问所有测量和测量数据。既可在实验室使用，也可在户外使用，携带方便，一个人就可完成。只需要一个电源，从安装到开始测量只需10分钟左右。嵌入微软处理器和通讯连接，把主单元与计算机用一根电缆连接上，就可进行其它扩展应用。
Xstress3000X射线应力分析仪技术规格：
主控单元
在5-30kV/0-10mA 范围内自由调整。X紧凑设计
包括
-电源
-电子部件和固件控制单元
-高压发生器
-自循环液体冷却系统，不需外部供水
-确保安全所需的所有互锁装置
控制残余应力
残余奥氏体测量
实验室精度
不需切割试样
测角仪
标准的XSTRESS 3000测角仪-G3安装在一个带有磁座的三角架上。
-倾角：可编程-60°~ +60°(标准)
-摇摆：可编程0°~ ±6°
探测器
在?几何系统的入射线两侧对称安装了高精密度的MOS线性成像探测器
角精度：0.014°-0.057°象素
软件
Xstress3000X射线应力分析仪操作系统：Windows。
