昆山汐朗德工业设备有限公司
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软件功能介绍：?一套软件，一个完整的解决方案RationalVue打破了以往“影像和探针功能需配备并切换不同软件的模式”，使用RationalVue，用户无需再切换软件或界面，完全在一个软件界面下操作，并能轻松准确地实现坐标系统一！一套RationalVue = 二维检测比对软件 + 三维检测比对软件 + CAD逆向软件 + Form分析软件 + 轮廓扫描软件 + SPC统计分析软件 + 脱机编程软件 + 形位公差评价软件…操作快捷、提高效率?拖放式操作：“鼠标点击” + “鼠标拖拽” = 强大功能的实现?基于CAD，快速比对?软件可导入Iges三维图档或DXF格式的CAD文件?CAD直接用于指导测量，并完成实际与理论的比对功能。使得测量效率提高了2-3倍。?可完成位置度、曲线轮廓度、曲面轮廓度等ISO形位公差的测量。?自动程序影像、探针、坐标系、自动对焦、放大倍率、光线亮度调整、CAD理论元素识别、自动比对测量、元素构
?造、公差计算、输出，都可以同时加入到一个程序中并自动运行。?程序修改方便、快捷?同在一个屏幕下的元素，机器无需运动，自动测完?支持脱机编程&虚拟测量?脱机编程：可导入零部件的Iges和DXF图档，在脱机情况下进行基于CAD的测量程序编写，以及编写数据输出和查看程序?虚拟测量：可以将工件的整个图像拼接成完整的图形，在脱离机器和工件测量的情况下，给客户演示、用户新手教学。采用世界X算法、提高机器整体性能和精度?完整的机器补偿算法支持机器21项误差补偿：线性、直线度、角摆、垂直度…支持Z轴自转补偿、Z轴垂直度补偿（用平行瓶颈）、Z轴探针补偿（用探针）镜头XY比例校正支持OEM补偿加密软件内置玻璃线纹尺、面阵补偿板自动程序，可协助快速取得补偿数据，使机器补偿效率大大提高，降低用户的人力误差和时间成本?子像素算法应用了X的子像素算法，大大降低了光学测量中软件对于测量精度的影响。?对焦测量高度、平面度RationalVueX立研发的对焦算法，可快速准确的完成工件对焦，在2-3秒内完成快速对焦，重复对焦精度可达到0.003mm，可用于工件高度、平面度等公差测量的测量自动对焦平面度计算功能全面、强大?X完整的几何测量[2D元素]：点、直线、圆、圆弧、曲线、键槽、椭圆[3D元素]：平面、圆球、圆锥、圆柱、圆环、曲面?工件拼图&导航工件全图实时扫描（下图为实时拼图过程中）可将工件全景图形扫描出来，直接用于GPS导航，快速找到需测量的位置，测量过程不再迷路，同时大大提高了测量效率。?探针&影像复合测量除常规元素检测外，还支持：测量曲线、扫描曲线、输出TXT点集、椭圆、槽（圆槽&方槽）、快速创建曲线极点、对焦点、对焦平面；真正CAD三维空间视图CAD元素自动识别（无需手动输入理论）影像和探针坐标系统一合并，被测元素自动统一影像和探针程序可穿插在同一个程序的始终
RationalVue内置的SPC统计分析模块提供一系列完整的管制图，如：XBar-S（均值和标准差图）、XBar-R（均值和极差图）、XBar-Rm（单值和移动极差图）、Histogram（直方图）、Capability（正态分布图）…实时计算相关参数：Ca、Cp、Cpk、Pp、PpK、Std、Max、Min、Range、Lout%、Uout%...XBar-SXBar-RRun-ChartXBar-RmHistogramCapability?逆向工程RationalVue可将测量产品输出为DXF和三维的Iges格式的数据，实现逆向工程
