是根据X声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的X声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头通过X测量X声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使X声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
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