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美国GEX声波探伤仪探头K4G简介
特性：穿透性能好/远场分辨率高/抗磨损性能好
K..G和K..N系列探头
通常：对所有类型零件体内或沿表面分布的缺陷的探测和评估。可以用于有保护膜的探头不适合的有锋利边缘的物体的测试,用于探测小型物体上的非常小的反射物，或者大的,通常用作由不同材料（如钢、金属、玻璃、瓷、陶瓷）制成的小、中和大尺寸的物体的测试。由于具有好的分辨率。
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