杭州雷琪实验器材有限公司
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| 产品介绍： | 测量范围： 1nm～4000nm； 测量X小值： ≤1nm； 镀膜折射率范围： 1.300-10000 入射角： 40°～90° 误差≤0.05°； 偏振器方位角范围： 0°～180°； 偏振器步进角： 0.0375°/步； 仪器测量精度： 在10nm处误差为±0.5nm； 光学中心高度： 75㎜； 允许样品尺寸直径： Φ10~Φ120㎜，厚度≤10㎜； 外形尺寸： 730 x230X 290； 主机重量： 30kg； 近代科学技术的许多学科对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此，X地测定薄膜厚度和光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中虽然可以利用各种传统的方法测定光学参数，但椭圆偏振法具有X特的X点。这种方法测量灵敏度和精度较高，并且是非破坏性测量。它能同时测定薄膜的厚度和折射率。因而，目前椭圆偏振法测量已在光学、半导体、生物、医学等方面得到较为广泛的应用。 | |
| 产品特点： | 本仪器分为光源、接收器、主机、电子及通讯四部分，外观参看右图。 1、光源：采用波长为632.8nm的氦氖激光光源①其特点是：光强大、光谱纯、波长稳定性好。 2、接收器：采用光电倍增管⑤，把光讯号变为电讯号，经放大后输出至微机， 由微机选择出消光位置的角度值。 3、主机部分：除以上两项外，还有起偏组件②，样品台③，检偏组件④。 4、电子及通讯部分⑥：采集光强及对应的角度值并传输到计算机， 再接收由计算机发出的指令逐步靠近消光点。 ■仪器采用消光式椭圆偏振方式测量，具有精度高、自动控制等特点。 ■光源采用氦氖激光，波长精度高 ■仪器采用USB接口与电脑连接，配套软件对采样数据具有多种处理方式适用于不同需要， 同时软件有完整版及学生版两种版本适于教学要求。 成套性 主机，USB接口，软件（需配计算机） |
