产品介绍: | 作为一种紫外可见光谱反射仪,SP-1700系列可广泛地用于光学、化学、机械等科学研究X域以及光学器材制造、镀膜行业、宝石业、化学工业、冶金工业等企事业单位进行快速检测和X分析 技术指标: 一、光学性能 ◆检测方式:单光束 ◆单色器:自准式(Littrow)单色光路 ◆光栅:1200条/毫米 ◆光铺带宽:0.5、1、2、4nm可调(SP-1700型/SP-1710型)2nm(SP-1702型/SP-1712型) ◆波长设置范围:190-1100nm ◆波长范围:200-1000nm ◆波长准确度:+/-1nm ◆波长重复性:0.5nm ◆光源切换波长:300-360nm ◆杂光:≤0.3%T(在220和340农贸) 二、光度性能 ◆光度方式:透射率、相对反射率、X反射率、能量 ◆光度范围:0-100.0%T ◆光度准确度:+/-0.5%T使用NTST930标准虑色片 ◆光度重复性:0.3%T ◆光度稳定性:+/-0.002A/h(预热一小时,在500nm处) ◆基线平直度:+/-0.004A(200-1000nm) ◆反射角度可调范围:22.5-90度 ◆反射率准确度:0.5%(0-100%,相对反射) 三、仪器规格 ◆样品室:手动旋转平台(SP-1700型/SP-1702型);自动旋转定位双旋平台(SP-1710型/SP-1712型) ◆应用软件:SPWin-opt5.0版 ◆信号输出方式:RS-232C ◆外形尺寸:400L*700W*330Hmm ◆电源要求:110/220VAC,50/60Hz |
产品特点: | X反射X测量技术: 这是一款用于测量各种形状的光学元件透射率、相对反射率、X反射率的X仪器。由光学测量工作站(SPWin-Opt)控制,反射角度在22.5-90度范围内任意可调,360度范围内任意设置样品被测角度,以满足不同形状元件的测量透射率、反射率的要求。 仪器改变了传统的分光光度计测量方法。X创了检测器移动和样品测量架旋转技术,测量时,无需构见复杂的光路和X的测量附件,从而提高了仪器的信噪比,简化了操作过程。结合专为光学测量设计的工作站软件,可显示透射率、反射率曲线,自动检测峰高,等高点等数据。 该技术意申请发明X和实用新型X,并已被XX局正式受理。 |
名 称 | 规 格 | 包装 | 备注 | 售价(元) |
SP1700型紫外可见光谱反射仪 | 光谱带宽:0.5、1、2、4、nm可调 | 1 | 样品室:手动旋转平台 | 88000.00 |
SP1710型紫外可见光谱反射仪 | 光谱带宽:0.5、1、2、4、nm可调 | 1 | 样品室:自动旋转定位双旋平台 | . |
SP1702型紫外可见光谱反射仪 | 光谱带宽:2nm可调 | 1 | 样品室:手动旋转平台 | 77000.00 |
SP-1712型紫外可见光谱反射仪 | 光谱带宽:2nm可调 | 1 | 样品室:自动旋转定位双旋平台 | . |