产品介绍: | ST-20掌上型方块电阻测试仪是一种依照类似的X标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
产品特点: | 1 采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定 2 低功耗 3 采用单个电池供电,带电池欠压指示 4 仪器体积仅为:130mmX65mm X23mm 5 特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针X接触被测材料及保护薄膜 6 探头带抗静电模块 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
技术参数: |
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