济宁天华超声电子仪器有限公司
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X声波测厚仪是根据X声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的X声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头通过X测量X声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使X声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
型号 | 显示方法 | 测量范围mm | 误差mm | 声速设置 m/s | 电源 | 频率 | 外型mm | 重量g | 指示 | 背光 |
UTM-102 | LCD | 1.0-200 | ±(0.5% 厚度值 +0.1) | 1000-9999 | DC ·1.5V | 5MHz | 125 × 60× 24 | 210 | 欠压 | 有 |
UTM-103 | LCD | 1.0-200 | ±(0.5% 厚度值 +0.1) | 1000-9999 | DC ·1.5V | 5MHz | 125 × 60× 24 | 210 | 耦合 | 无 |
