該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。

HT-300D方塊電阻測試儀輸出采用高精度芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表

機采用世界領(lǐng)先的先進電路設計，所測數(shù)值更精、更快、更準 2．屏幕采用液晶顯示 3．匹配電腦接口及軟件，讓操作簡便明了化

四探針法粉體粉末電阻率測試儀 wi126416

佰力博科技為您提供HRMS-800高溫薄膜四探針測量系統(tǒng)的詳細產(chǎn)品價格、產(chǎn)品圖片等產(chǎn)品介紹信息，您可以直接聯(lián)系廠家獲取HRMS-800高溫薄膜四探針測量系統(tǒng)的具體資料。